Materialanalys med SEM

Med hjälp av svepelektronikmikroskopi (SEM) i kombination med energidispersiv röntgenspektroskopi (EDS) och diffraktion från bakåtspridda elektroner (EBSD) har vi möjlighet att karakterisera yt- och kristallstruktur samt sammansättning av de flesta typer av material, såsom metaller och keramer och även organiska material som polymerer.

Inom RISE har vi flera svepelektronmikroskop som lämpar sig för olika typer av prover och analyser. Utöver materialkarakterisering kan vi bistå med tjänster inom produkt- och processutveckling. samt fel- och skadeanalys av industriella applikationer.

Fältemissions-SEM ger unika möjligheter att undersöka materialets ytstruktur med mycket hög förstoring och upplösning. Med lågvakuum-SEM kan vi undersöka i princip alla typer av material förutom vätskor, ofta med mycket enkel provpreparering. Dessutom finns möjlighet till kvantitativ elementaranalys och kristallstrukturanalys med hög precision med hjälp av EDS respektive EBSD.

Med några av de bästa analysverktygen kombinerat med vår breda kompetens och mångåriga erfarenhet utför vi både kortare konsulttjänster och avancerade forskningsuppdrag för den tillverkande och produktutvecklande industrin. Målet är alltid att ge största möjliga industrinytta.

Grundämnesanalys – EDS

Energidispersiv röntgenspektroskopi (EDS) är ett effektivt sätt att genomföra grundämnesanalys. Metoden är enkel, snabb och (oftast) oförstörande. Bara på några sekunder kan man få information om vilka grundämnen som förekommer samt i vilka ungefärliga halter. Genom att analysera under längre tid förbättras noggrannheten i mätningen, vilket kan vara av intresse för beräkning av den relativa materialsammansättningen.

Analys av faser och kristallorienteringar – EBSD

Diffraktion från bakåtspridda elektroner (EBSD) ger kristallografisk information i varje analyserad punkt, såsom kristallstruktur, förekommande faser, kristall/kornorientering, etc. Utvärdering av uppmätt data kan dessutom visa lokal deformationsgrad, medelkornstorlek och kornstorleksfördelning, analys av korngränser, etc. Eftersom analysmetoden är diffraktionsbaserad, så är en förutsättning att det analyserade materialet är kristallint och har tillräckligt hög densitet. Metoden är väl lämpad för att till exempel studera material/legeringar som förekommer i olika faser (med olika kristallstruktur), men som har samma kemiska sammansättning.