RISE utvecklar unikt mätinstrument med grafen

Produkten är ett kompakt, portabelt och användarvänligt mätinstrument med chip av materialet grafen. Något som kommer ge elektronikindustrin möjlighet att själva utföra noggrannare och säkrare kalibreringar av sina instrument. Att mäta allt från exempelvis massa, längd och elström till temperatur och ljus så noggrant och precist som möjligt är en viktig kvalitetsstämpel för industrin. 

– Att kunna mäta korrekt är grunden för all form av teknikutveckling. En utmaning för industrin är dock att de ofta först måste skicka sina instrument till nationella laboratorium för att de ska kunna kalibreras med hög noggrannhet, säger Hans He, forskare på RISE och expert inom området grafen och nanovetenskap.

Nu inleder Hans He och RISE ett samarbete med det nationellt erkända kanadensiska bolaget Measurements International (MI), som erbjuder mättekniska instrument och tjänster som kräver extremt hög noggrannhet och pålitlighet. Deras produkter används av ledande metrologiinstitut som amerikanska NIST och Schweiziska METAS, men även av stora bolag och myndigheter som NASA, Lockheed Martin och Siemens.  Steg ett i samarbetet är att ta fram en prototyp för ett helt nytt instrument som industrin själva kan använda för att kalibrera mot en grupp primära resistansnormaler med olika resistansvärden, så kallade arrayer av grafen.

– MI vill satsa stort på att använda det tvådimensionella materialet grafen eftersom det har elektroniska egenskaper som gör resistansmätningarna både mer effektiva och mer exakta. Eftersom vi på RISE har unik expertis inom just grafen och resistansstandarder kommer vårt samarbete göra att vi kan ta fram en avancerad, men användarvänlig produkt och nå ut till relevanta kunder, som kanske främst kommer finnas inom industrin, säger Hans.

Den framtida mätprodukten, som ska utvecklas av RISE i samarbete med MI, är tänkt att vara kompakt och lätt att transportera. Detta gör att till exempel teknikindustrin kan använda den på plats hos sig själva. Något som kommer effektivisera arbetet och bidra till att de slipper tidskrävande mellanhänder.

– Vi är väldigt glada över vårt samarbete med RISE. Tillsammans kommer vi kunna utveckla en produkt som är helt unik på marknaden och nå ut till fler med den allra senaste tekniken. Ett komplett och kompakt mätsystem med materialet grafen som grund, säger Alessio Pollarolo, vice president på MI:s utvecklingsavdelning Measurement Science.

Kontakt:

Hans He, forskare RISE

Mail: hans.he@ri.se

Tel: +46 10 516 61 38