Tillverkning av papper och kartong: process- och produktvariationer.

Lokala variationer i materialfördelning och struktur i pappers- eller kartongbanan är ofta förenade med kvalitetsvariationer hos produkten längre fram i processen och i konverteringsleden. Med olika arbetssätt kan denna koppling förtydligas för att sedan åtgärdas.

Kartor över variationer framtagna med IR-höghastighetskamera

Materialfördelningens variation återspeglas t.ex. i den lokala värmeutstrålning hos ytan när produkten kommer ut ur torken. Vårt mobila IR-kamerasystem kan placeras i lämplig mätposition för att med hög filmhastighet och korta exponeringstider avbilda pappersbanan detaljerat utan rörelseoskärpa så att variationer över ytan kan detekteras under många minuters produktion. Tillsammans med beskrivning av processen kan analys av periodiska variationer och temporära mönster leda till bättre förståelse för hur uppkomsten kopplar till materialflöde respektive maskintillstånd.

Kartor över IR-variationer kan också synkroniseras med fast installerade mätsystem för att modellera egenskapsvariationer för de områden som inte karaktäriseras av mätsystemen. I förlängningen förbättrar det möjligheten att hitta och förstå uppkomst av temporära avvikelser on-line. Detta möjliggör en tidigare och säkrare kvalitetsklassning av anläggningens olika processavsnitt. Andra tillämpnings kan vara snabbare uppstarter och omställningar.

Detaljkaraktärisering av rullar med automatiserad provning och specialiserade analyser

Som ett alternativ eller komplement kan smala rullar från produktionen karaktäriseras i detalj för en önskad kombination av produktegenskaper. Genom att använda automatiserad pappersprovning utrustad med automatisk upprullning kan hundratals meter långa provrullar karaktäriseras flera gånger. På detta vis kan man få tusentals mätningar för olika egenskaper mätta i sammanfallande positioner och med steglängder ner till centimeternivån.

Utöver standardiserade mätningar kan RISE utföra specialiserade analyser för att identifiera problemfaktorer i produkten. Exempel är lokal formation, anisotropi i tjockleksriktningen eller kemisk analys med hyperspektral NIR-kamera.

Koppling till insamlad och strukturerad processdata

RISE plattform för analys av stora datamängder gör det möjlig att sammanföra högupplösta variationskartor av hela produktionen med utvalda processdata från bruket på ett säkert och kontrollerbart sätt. I denna miljö kan olika metoder för avancerad dataanalys användas på det gemensamma datasetet för olika syften. Dessa kan vara allt från enklare jämförelser till utveckling av prediktiva modeller att använda till orsaksanalys, avvikelsedetektion eller som verktyg för operatörsstöd.