Molekylär analys av material och ytor med avbildande masspektroskopi

Vill du ta reda på vad du har på ytan eller hur ditt material är uppbyggt? Med vår unika kompetens i avbildande masspektroskopi (ToF-SIMS) kan vi hjälpa dig att ta fram information om materialytors molekylära sammansättning och avbilda hur olika komponenter är fördelade på ytan.

Vill du veta vad det är för avlagringar på ytan som skapar missfärgningar? Eller hur ditt nyutvecklade material är uppbyggt? RISE erbjuder unik expertis och utrustning för molekylär analys av ytor och material med ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry), alltifrån mindre analysuppdrag till längre samarbeten inom forskning och utveckling. Med ToF-SIMS kan vi mäta på mycket låga provmängder och avbilda specifika molekyler, inklusive organiska, med hög rumslig upplösning på ett sätt som inte är möjligt med andra analysmetoder. Med vår långa erfarenhet av att svara på frågor relaterade till ytor och materialkarakterisering inom en rad olika branscher har vi en unik kompetens för att kunna svara på just din specifika frågeställning.

Exempel på frågeställningar och analysuppgifter vi kan hjälpa till med är:

Problemlösning för tillverkningsindustri inom olika brancher, t.ex.
- vidhäftningsproblem
- missfärgningar
- beläggningar
- tvättning/föroreningsproblem
Karakterisering av avancerade/sammansatta material för undersökning av komponenternas rumsliga fördelning, t.ex.
- tillsatser i polymerer
- ytskikt eller skiktade material
- funktionaliserade ytor
- läkemedel
- batterier
Analys av komplexa naturliga material, t.ex.
- biologiska vävnader
- geologiska prover
- papper och trä
Kemisk analys av partiklar
- enstaka partiklar ned till 10-100 µm diameter kan analyseras