In-situ svepelektronmikroskop

In-situ SEM är en unik och banbrytande avancerad analysteknik för att undersöka mikrostrukturella egenskaper. Tekniken kan användas för att utforska nya hållbara processer som leder till ett lägre koldioxidavtryck.

Syfte

In-situ svepelektronmikroskop (SEM) är ett toppmodernt instrument som används för karakterisering av prover när de genomgår förändringar från hög temperatur och kemiska förändringar på grund av en reaktiv gasatmosfär (såsom väte, koldioxid eller luft). Denna unika förmåga gör in-situ SEM till ett kritiskt instrument för undersökningar av högtemperaturfenomen som järnreduktion, kalcinering och kimröksbildning.

Metod

RISE in-situ SEM är utrustad med ett antal avancerade detektorer såsom energidispersiv röntgenspektroskopi (EDX), detektorer för sekundär och bakåtspridd elektrondetektion och scanning transmission elektron (STEM) detektor. SEM kan köras från lågspänning 0,2 keV upp till 30 keV.

In-situ experimenten kan utföras i högt vakuum och vid hög temperatur med och utan reaktiv miljö.

Leverans

Leveransen kommer ofta att innehålla bilder eller videor av proverna när de genomgår termiska eller kemiska förändringar, som ingår i en rapport som beskriver karakteriseringen. Resultat från avancerade detektorer som EDX eller skanningstransmission kan också inkluderas beroende på karaktäriseringens art.